Neutronenreflektometrie und SANS und NSE bei streifendem Einfall

Das Tiefenprofil makroskopischer Schichtstrukturen wird durch Neutronenreflektometrie sichtbar. Dabei ist im Soft-matter Bereich wieder die H/D-Kontrastvariation ein wesentliches Werkzeug, um den Informationsgehalt einer Messung zu steigern. Laterale Strukturen zeigen sich in der diffusen Streuung neben dem Spiegelreflex (offspecular scattering). Dies wird bei SANS und NSE mit streifendem Einfall (GISANS, GINSE) genutzt.

Eine besondere neue Methode zur Intensitätssteigerung bei GINSE ist die Verwendung von Mehrlagen beschichteten Substraten, so dass die Beschichtung einem Resonator entspricht, der die Amplitude der evaneszenten Materiewelle des totalreflektierten Neutronenstrahls, d.h. dort wo sich die zu untersuchende Schicht befindet, um mehr als eine Größenordnung steigert.