Laboratorien
Unsere Labors sind mit den folgenden Einrichtungen ausgestattet:
- Millikelvin STM (8T / 8T / 30 mK) (Rev. Sci. Inst. 92, 063701 (2021))
Ultrahochvakuum-STM, das die adiabatische Entmagnetisierung der magnetischen Momente der Elektronen nutzt, um seine Betriebstemperatur zwischen 30 mK und 1 K mit einer Genauigkeit von bis zu 7 μK rms zu steuern. Gleichzeitig können hohe Magnetfelder von bis zu 8 T senkrecht zur Probenoberfläche angelegt werden. - Unisoku 1300 STM/ AFM (9/2/2T / 0.3 K / Mikrowellenverkabelung)
Mit diesem kombinierten STM/AFM untersuchen wir Spinsysteme auf Oberflächen. Die analysierten Systeme reichen von einzelnen atomaren und molekularen Spins über komplex gekoppelte Spinstrukturen und selbstorganisierte Spin-Gitter bis hin zu den magnetischen Eigenschaften von 2D-Heterostrukturen. Die Kombination von Vektorfeld, niedriger Temperatur und extrem hoher Zeitauflösung ermöglicht Experimente auf dem Gebiet der kohärenten Quantenkontrolle und dynamischer Messungen in korrelierten Elektronensystemen. - CreaTec STM/AFM (5K)
Dieses Ultrahochvakuum-Niedertemperatur-STM/NC-AFM der CreaTec Fischer GmbH wird in erster Linie zur Erforschung der molekularen Manipulation und Herstellung mit der SPM-Spitze als Aktor eingesetzt. Das Gerät arbeitet bei 5K und hat die Option, NC-AFM-Sensoren vom Typ qPlus zu verwenden. In unserem Labor wird es durch speziell angefertigte Steuerungshardware für molekulare Manipulation und Rasterquantenpunktmikroskopie erweitert. - Sigma STM/AFM (5T / 1K)
Dieses STM/AFM wird zur Untersuchung von van-der-Waals-Heterostrukturen bei niedrigen Temperaturen und in Magnetfeldern eingesetzt, was durch den guten optischen Zugang zum Tunnelübergang erleichtert wird. Außerdem verfügt es über Hochfrequenzleitungen zur Spitze/Probe, die Pump-/Sonde- und ESR-Experimente ermöglichen. - Vierspitzen-STM (STM) mit einem optischen Mikroskop (Rev. Sci. Inst. 83, 033707 (2012))
Dieses Instrument wird für den Ladungstransport an Nanostrukturen von Quantenmaterialien verwendet. - Vierspitzen-STM kombiniert mit SEM (5K) (Rev. Sci. Inst. 89, 101101 (2018))
Dieses Instrument kombiniert Messungen des Niedertemperaturtransports mit der lokalen Perspektive. - Kombiniertes Mehrspitzen-AFM/STM/SEM mit Nadelsensor (Rev. Sci. Inst.86, 123703 (2015))
Dieses Instrument wird zur Untersuchung des Ladungstransports in leitenden Nanostrukturen auf isolierenden Substraten eingesetzt. - SPA-LEED / XPS / ARUPS
Die Kombination von hochauflösenden (SPA-)LEED- und Standard-Elektronenspektroskopietechniken in einem UHV-Gerät ermöglicht es uns, Informationen über die geometrische und elektronische Struktur aus ein und derselben Probenpräparation zu gewinnen. Mit einer Transferbreite von mehr als 1000 Å (entsprechend einer k-Raum-Auflösung von besser 0,006 Å-1) ist das Omicron SPA-LEED-Instrument in der Lage, nicht nur Strukturinformationen auf der atomaren Skala zu liefern, wie dies bei herkömmlichen LEED-Instrumenten der Fall ist, sondern kann auch zur Untersuchung von Facetten und Stufenzügen, Oberflächenrauhigkeit, Inselgrößen und -verteilungen und anderen Merkmalen auf der mesoskopischen Längenskala verwendet werden. Die ARPES-Einheit ist mit einer monochromatisierten Hochleistungs-He-Lampe (Scienta VUV5k), einer weichen Röntgenquelle (Prevac RS 40B1) und einem Elektronenanalysator (Scienta R3000, < 3 meV maximale Auflösung) ausgestattet. - AC-LEEM / SPE-PEEM
Mit unserem aberrationskorrigierten spektroskopischen Elmitec LEEM/PEEM III Mikroskop untersuchen wir sowohl organische Adsorbate als auch 2D-Ein- und Mehrschichtstrukturen auf verschiedenen Substraten. Insbesondere sind wir an kinetischen Prozessen wie Schichtwachstum und Phasenübergängen interessiert, die in situ und in Echtzeit untersucht werden. Dank des Aberrationskorrektors kann im LEEM-Modus eine räumliche Auflösung von mehr als 2 nm erreicht werden. Neben LEEM mit verschiedenen Kontrastmechanismen und µ-LEED können wir auch PEEM-, ARUPS- und POT-Daten aufnehmen, wenn wir UV-Licht anstelle von Elektronen zur Beleuchtung der Probe verwenden. Die Energiefilterung im spektroskopischen Modus bietet eine Energieauflösung von ca. 150 meV. - 2D-Fertigungslabor
Das Labor verfügt über eine Glovebox mit einem Exfoliationsarbeitsplatz, einem Lichtmikroskop und einem Transfertisch zur Herstellung von van-der-Waals-Heterostrukturen für die Untersuchung mit STM. Weitere Geräte sind ein AFM für die Analyse und Reinigung von Heterostrukturen unter Umgebungsbedingungen und ein Spin-Coater für die Herstellung von Transferpolymeren. - Toroid-Elektronenanalysator
Der toroidale Elektronenanalysator befindet sich an der Strahlenlinie der Metrologie-Lichtquelle der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), dem nationalen Metrologieinstitut Deutschlands. Eine einzigartige Kombination aus einer breiten (±90°) Akzeptanz des Analysators (konstruiert von Prof. John Riley, La Trobe University) und der metrologischen Quelle eines monochromatischen Lichts (4-400 nm) mit einem kalibrierten Photonenfluss ermöglicht eine quantitative k-raumaufgelöste Untersuchung der Valenzbänder von niedrigdimensionalen Strukturen. - Zeiss Sigma 500 SEM
Die Forschung an diesen Einrichtungen wird durch unsere Synchrotronarbeit ergänzt, bei der wir hauptsächlich die Methoden der Röntgenstehwellen (XSW), der Photoelektronenspektroskopie (PES) und der Photoemissions-Orbital-Tomographie (POT) auf Oberflächenprobleme anwenden.
Abkürzungen
STM | Rastertunnelmikroskop (Scanning Tunneling Microscope) |
AFM | Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope) |
SEM | Rasterelektronenmikroskop (Scanning Electron Microscope) |
(SPA-)LEED | (Spot-Profil-Analyse-)Niederenergie-Elektronenbeugung ((Spot-Profile-Analysis-)Low Energy Electron Diffraction) |
XPS | Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (X-ray Photoelectron Spectrosocopy) |
(AR)UPS | (winkelaufgelöste) Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie ((Angle-Resolved) Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy) |
AC-LEEM | Abberationskorrigiertes Niederenergie-Elektronenmikroskop (Abberation Corrected Low Energy Electron Microscope) |
PEEM | Foto-Elektronen-Emissionsmikroskop (Photo Electron Emission Microscope) |
HREELS | Hochauflösende Elektronenenergieverlustspektroskopie (High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy) |
POT | Photoemissions-Orbital-Tomographie (Photoemission Orbital Tomography) |